每周一上午趕制良率周報曾是質量團隊的固定負擔：手動匯總Excel、調整圖表、統(tǒng)一格式，耗時且易出錯。YMS內置報表模板可按日、周、月自動生成結構化報告，內容涵蓋SYL/SBL卡控狀態(tài)、區(qū)域缺陷對比、時間趨勢等關鍵指標，并支持一鍵導出為PPT、Excel或PDF。管理層用PPT版直接用于經營會議，客戶審計接收標準化PDF文檔，工程師則調取Excel原始數據深入挖掘。自動化流程確保全公司使用同一數據口徑，避免信息互相影響。報表制作時間從數小時降至幾分鐘，釋放人力資源投入更高價值工作。上海偉諾信息科技有限公司通過靈活報表功能，推動企業(yè)決策從“經驗驅動”向“數據驅動”轉型。Mapping Over Ink處理方案不依賴國外軟件，具備完全自主可控的技術特性。上海半導體GDBC工具

面對國產替代需求，選擇具備技術自主性和行業(yè)適配能力的良率管理系統(tǒng)廠商至關重要。上海偉諾信息科技有限公司的YMS系統(tǒng)兼容主流Tester平臺，覆蓋十余種測試數據格式，實現從采集、解析到異常過濾的全流程自動化。其分析引擎支持時間序列追蹤、晶圓區(qū)域對比及WAT/CP/FT參數聯動，精確識別影響良率的關鍵因素。SYL/SBL卡控與靈活報表導出功能，進一步強化過程管控與決策支持。更重要的是，系統(tǒng)背后有完整的實施與服務體系支撐，確保從部署到優(yōu)化的每個環(huán)節(jié)可靠落地。這種“軟硬協(xié)同”的能力，使YMS在國產軟件生態(tài)中具備強大競爭力。偉諾依托多年項目積累，持續(xù)驗證其作為本土良率管理解決方案提供者的專業(yè)價值。上海晶圓Mapping Inkless系統(tǒng)價格失效Die的空間分布特征是判斷工藝問題的關鍵依據，指導制程參數優(yōu)化。

在半導體制造中，晶圓廠制程的任何微小變動，都可能引起良率與可靠性的風險。其中，一個尤為典型的系統(tǒng)性失效模式，便源于光刻環(huán)節(jié)的Reticle（光罩）。當Reticle本身存在污染、劃傷或設計瑕疵時，或當光刻機在步進重復曝光過程中出現參數漂移（如焦距不準、曝光能量不均）時。這些因Reticle問題而產生的特定區(qū)域內的芯片，實質上構成了一個高風險的“潛伏失效群體”。若不能在測試階段被精確識別并剔除，將直接流向客戶端，對產品的長期可靠性與品牌聲譽構成嚴重威脅。識別并處理這類與Reticle強相關的潛在缺陷，是現代高可靠性質量管理中一項極具挑戰(zhàn)性的關鍵任務。

上海偉諾信息科技有限公司在Mapping Over Ink功能中提供了一個Shot Mapping Ink方案，可以將整個Mapping按Reticle大小或是自定義大小的方格，根據設定的算法將整個Shot進行Ink, 從而去除掉因光刻環(huán)節(jié)的Reticle引起的潛在性失效芯片。通過Shot Mapping Ink方案，用戶能夠將質量管控的關口從“篩查單個失效芯片”前移至“攔截整個失效風險區(qū)域”。這尤其適用于對可靠性要求極嚴苛的車規(guī)、工規(guī)等產品，它能極大程度地降低因光刻制程偶發(fā)問題導致的批次性可靠性風險，為客戶構建起一道應對系統(tǒng)性缺陷的堅固防線。

良率波動若只憑單點數據判斷，容易誤判趨勢。YMS系統(tǒng)將每日、每周、每月的測試結果按時間序列歸檔，生成連續(xù)良率曲線，并以折線圖、熱力圖等形式直觀呈現變化規(guī)律。當某產品線周良率從98%驟降至95%時，系統(tǒng)不僅高亮異常區(qū)間，還可聯動同期WAT參數漂移或設備維護記錄，輔助判斷是否為工藝變更所致。管理層可按日粒度監(jiān)控關鍵產品，工程師則可深入分析小時級波動以優(yōu)化機臺參數。這種動態(tài)追蹤能力，使質量干預從事后追溯轉向事中預警。結合靈活報表工具，時間維度分析結果可一鍵導出為PPT或PDF，用于晨會或客戶匯報。上海偉諾信息科技有限公司通過YMS的時間序列分析功能，助力客戶實現精細化過程管控。Mapping Over Ink處理后的數據完整支持回溯為原始Probe格式，滿足客戶審計需求。

因測試數據錯誤導致誤判良率，可能引發(fā)不必要的重測或錯誤工藝調整，造成材料與時間雙重浪費。YMS在數據入庫前執(zhí)行多層校驗，自動剔除異常記錄，確保進入分析環(huán)節(jié)的數據真實反映產品狀態(tài)。例如，當某晶圓因通信中斷產生部分缺失數據時，系統(tǒng)會標記該記錄而非直接納入統(tǒng)計，避免拉低整體良率。結合WAT、CP、FT參數的交叉驗證，進一步排除孤立異常點。高質量數據輸入使質量決策建立在可靠基礎上，明顯降低返工率和報廢風險。這種前置質量控制機制，將成本節(jié)約從“事后補救”轉向“事前預防”。上海偉諾信息科技有限公司通過嚴謹的數據治理邏輯，保障YMS輸出結果的科學性與可執(zhí)行性。Mapping Over Ink處理通過虛擬篩選避免不良品流入封裝或市場環(huán)節(jié)，提升產品良率。上海可視化PAT軟件

Mapping Over Ink處理算法模型覆蓋連續(xù)性、孤立型等多種失效模式，提升識別全面性。上海半導體GDBC工具

Mapping Over Ink是一套在晶圓測試（CP）后，對電性測試圖譜進行智能分析、處理，并直接驅動探針臺對特定芯片進行噴墨打點的自動化系統(tǒng)。它將各種分析算法（如ZPAT, GDBN）得出的“失效判定”轉化為物理世界中的行動——將不良品標記出來，使其在后續(xù)封裝中被剔除。其重點是預見性地剔除所有潛在缺陷芯片，而不僅是那些已經明確失效的。也是提升芯片零缺陷的一種重要方式。

上海偉諾信息科技有限公司作為半導體測試領域的解決方案供應商，致力于為國內外半導體設計公司與晶圓測試廠提供一站式的 Mapping Over Ink 整體解決方案。我們的平臺集成了業(yè)界前沿、專業(yè)的數據分析與處理模塊，旨在通過多重維度的智能篩選，構筑起一道**的質量防線，有效地提升用戶的晶圓測試質量與產品可靠性。 上海半導體GDBC工具

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實力背景、信譽可靠、勵精圖治、展望未來、有夢想有目標，有組織有體系的公司，堅持于帶領員工在未來的道路上大放光明，攜手共畫藍圖，在上海市等地區(qū)的數碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶**，為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎，也希望未來公司能成為行業(yè)的翹楚，努力為行業(yè)領域的發(fā)展奉獻出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強不息，斗志昂揚的的企業(yè)精神將引領和您一起攜手步入輝煌，共創(chuàng)佳績，一直以來，公司貫徹執(zhí)行科學管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠實守信的方針，員工精誠努力，協(xié)同奮取，以品質、服務來贏得市場，我們一直在路上！